william威廉英国官网举办“BMS软硬件功能与HIL测试技术”学术沙龙

        8月19日14:00，公司暑期第二场线上学术沙龙活动如期举行。活动由经理助理孙文褔主持，特邀吉利主任工程师宋健担任主讲人，围绕“BMS软硬件功能与HIL测试”主题进行系统讲解。公司相关专业教师代表在线参与，现场交流气氛热烈。

        宋健工程师从BMS（电池管理系统）的产品形态与硬件架构入手，介绍了当前主流的一主两从板架构设计。BMS通过菊花链通信采集电芯电压、母线电流及温度数据并上报主板进行策略控制。在安全保护方面，BMS基于预设阈值监测过压、欠压、过温及短路等异常工况，触发保护处理措施以保障行车安全。此外，BMS还承担状态估算与均衡管理功能，通过估算剩余电量（SOC）、健康状态（SOH）及功率（SOP）对外表征电池状态，并采用被动或主动均衡策略解决电芯压差问题，延长电池寿命。在热管理与通信交互方面，BMS通过液冷或直冷方式调控电池包温度，并通过CAN总线与VCU等控制器实时交互指令与状态信息，实现上下高压等功能控制。

        针对HIL（硬件在环）测试，宋健工程师详细阐述了其测试环境与对象定义——将真实BMS作为被测目标（DUT），其余控制器、高压部件及电池均通过仿真板卡、机柜等进行虚拟仿真，构建闭环测试环境。相较于实车测试，HIL测试在降低试错成本与安全风险的同时，能实现毫秒级自动化响应，显著提升测试效率与边界工况覆盖度。

        在系统组成方面，HIL台架由上位机、实时处理器及IO板卡构成，上位机通过界面下发指令至机柜内置下位机，再驱动各板卡输出模拟量或数字量信号与被测BMS交互。仿真设备主要依赖电芯电压模拟器、可编程直流电源及电子负载等，重点验证BMS软件逻辑与诊断策略，而非电芯物理特性或硬件元器件耐受性。

        在测试方法层面，宋健工程师分享了从手动验证向自动化回归测试过渡的行业实践。早期因环境不稳定多采用人工手动验证，待需求与逻辑成熟后引入TestStand等工具搭建图形化序列实现自动化回归测试。故障注入测试方面，企业专门设立诊断测试用例验证开路、短路等常见故障的触发条件、后处理机制及仪表报警等兜底策略的有效性。关于资源复用与配置差异，电芯模拟器支持独立通道与复用通道两种模式，前者灵活但成本高，后者经济但无法独立遍历单串测试，需根据机柜资源合理分配。

        在教学对接环节，宋健工程师详细介绍了企业测试用例的编写原则——企业已具备完整用例库，设计时依据功能安全ASIL等级，结合等价类划分、边界值分析及异常场景覆盖等导出具象化测试参数。核心诊断关注点涵盖通讯节点丢失、单体/整包过欠压、模组温度超限、采样失效及电流方向异常等典型故障的优先级与处理方式。

        针对SOC算法误差这一学术热点问题，宋健工程师指出积分法必然存在理论偏差，当前量产项目依赖满充修正与静置OCV修正策略规避误差，后续补偿研究需交由算法团队主导。这一回答为参会教师厘清了工程实践与学术研究的分工边界。

        活动最后，宋健工程师表示企业将把BMS基础测试用例及相关测试模块内容在脱敏处理后提供给公司，用于教师编写教案。此次学术沙龙为公司教师搭建了与行业前沿技术对话的平台，对深化产教融合、推动教学与产业需求对接具有重要意义。